ESSENTIAL: an efficient self-learning test pattern generation algorithm for sequential circuits

Schulz, M.H. ; Auth, E.

In: Proceedings. 'Meeting the Tests of Time'., International Test Conference, 1989, S. 28-37

Konferenz

Titel:	ESSENTIAL: an efficient self-learning test pattern generation algorithm for sequential circuits
Autor/in / Beteiligte Person:	Schulz, M.H. ; Auth, E.
Zeitschrift:	Proceedings. 'Meeting the Tests of Time'., International Test Conference, 1989, S. 28-37
Quelle:	International Test Conference; (1989) S. 28-37
Veröffentlichung:	1989
Medientyp:	Konferenz
DOI:	10.1109/TEST.1989.82274
Sonstiges:	Nachgewiesen in: IEEE Xplore Digital Library Relation: 1989 International Test Conference

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